晶体中缺陷和杂质的拉曼光谱和光致发光

拉曼光谱和光致发光对晶体中存在的缺陷和杂质很敏感。由于缺陷或杂质的存在，晶体中长程平动对称性的破坏影响了拉曼谱的移动和增宽。晶体中的杂质可以通过光致发光检测出来。对于在透明的主体晶体中存在过渡金属和镧系杂质的情况尤其如此。

涉及的主题是:

• 应变和纳米结晶表现在拉曼散射
• 通过基团理论和拉曼选择规则对晶体杂质进行表征
• 由过渡金属或镧系杂质产生的光致发光

扬声器

David Tuschel.
拉曼应用实验室经理
HORIBA科学

David Tuschel目前是HORIBA科学拉曼应用的经理。在此期间，他负责管理应用拉曼光谱客户的支持。David还与HORIBA的Fran Adar共同撰写了《分子光谱学工作台》一书，该书定期刊登在《光谱学》杂志上。在加入HORIBA之前，David于2009年至2011年初在匹兹堡大学担任高级研究员，研究爆炸物的紫外共振拉曼光谱。2002年至2008年，他是ChemIma亚博网站下载ge的首席材料科学家。从1985年到2002年，David在柯达公司担任研究科学家，在此期间，他开发了偏振/定向微拉曼技术，用于一般的固态材料和特别是光子/微电子器件的表征。亚博网站下载