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微分故障分析使用激光诱发分解光谱

加入新网络研讨会使用激光诱发分解光谱分析电偶

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电容沾染、残留物或产品内插物可快速导致产品质量下降标志化或甚至全批量失效类似污染和产品缺陷可见诸电子学和汽车生产环境

s-Ullrich Eckert来自Gerweck GmbHHans-Ullrich使用现场典型例子显示如何用显微镜分析这些样本,显微镜结合光显微镜和激光光谱镜以检测物料

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实时Libs

密钥学习目标

  • 深入了解电机电机和电子设备典型表面缺陷
  • 学习如何使用二进制光学和化学微分析快速高效分析典型缺陷/污染
  • 如何使用激光诱发分光镜识别污染/缺陷的根源

关于事件讲员:

Hans-Ullrich Eckert是德国布雷顿GerweckGmbH平面技术开发流程技术主管Gerweck GmbH是电子技术设备电站化的领先提供者,特别是选择转接电板,并使用Leca二元显微镜和Libs系统样本分析

Hans-Ullrich有40年电厂专业经验除主电厂资质外,他还拥有工商管理硕士并是商会考试委员会成员卡尔斯鲁厄市

Konstantin Kartashew持有Ruhr大学Bochum物理化学博士学位(德国),重点是微谱分析博士后,他扩展经验,作为数个分子和元素分光镜内光谱学产品专家原子发射和X射线光谱法2019年,他加入Leica微系统作为LIBS专家(Liser诱发分解光谱)和更多具体的复合显微应用

康斯坦丁角色为他提供与不同行业客户交换的机会学习挑战并提供实用建议能令他工作满意

由谁参加 webnar

高素质工程师、质量管理员、生产管理员、检验管理员、检验工程师、质量控制管理员、质量保证管理员、质量控制成员、研发管理员、研发工程师、研发成员、研发管理员、开发管理员、开发管理员、开发工程师、产品开发管理员、实验室管理员、分析实验室管理员、实验室技术员、微镜管理员写下你的位置

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注释

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