半导体光电子性能受结构质量强烈影响关键是要能够分析半导体薄膜技术解决关键特征,如晶体纹理、粒度边界、线程变换和晶体极化电子反向散射法使用较少,部分原因是缺乏精度限制了它解决个人缺陷和晶极性的能力。近些年来开发出一种新的EBSD模式索引化方法,使用实验模式和模拟模式之间的直接关联模式匹配方法导致角精度显著提高,解决晶极度能力提高,晶相相似相间有效偏差网络研讨会中,我们将与Dr.Aimo Winkelmann,EBSD模式模拟匹配方法专家亚博网站下载高级模式匹配功能 牛津仪器新AZTECLSBER软件 并展示MapSEPER从对半导体行业有重要意义的样本中提取关键信息 包括薄膜、焊接和纳米结构素材
你会学习
- EBSD模式模拟和模式匹配关键原理
- 快速多功能模式匹配工具
- 亚博网站下载各种材料应用实例与半导体行业相关
由谁出席:
- 亚博网站下载科学家研究半导体材料特性
- 半导体或电子包装行业研究人员
- 亚博网站下载研究人员使用EBSD描述挑战性材料