EDS制图:数据收集、表示、提取和挖掘

随着能量色散光谱(EDS)探测器的进步，该技术已经从单一的点-拍光谱采集技术发展到完整的x射线成像技术。在过去，数据收集的输出只是一幅图像，但现代系统具有与图像中的每个像素相关联的全光谱。这使得我们可以对光谱和图像进行大量的后处理，以找出细节，关联元素分布，并定位在和光谱中不容易看到的小贡献。

在本次网络研讨会中，我们将了解不同的显微镜设置如何在高真空和可变压力条件下影响地图输出和质量，以及通过改变这些设置可以获得什么信息。基于几个示例，我们将介绍基于原始数据计算的各种地图类型，并讨论它们之间的区别。我们还将介绍从地图中提取数据的一些不同选项，以便访问乍一看不太明显或无法访问的信息。

如果您参加本次网络研讨会，您将:

• 深入了解实验参数，以便在优化SEM进行EDS制图时考虑。
• 了解在示例中可视化基本分布的不同方法的优缺点。
• 通过了解可用的后处理工具，最大限度地利用数据收集。

演讲者

Jens Rafaelsen
应用工程师
EDAX

Jens Rafaelsen于2014年加入EDAX，担任EDS的应用工程师。他在电子显微镜方面有很强的背景，并在SEM和EDS理论和实践方面培训了大量的学生和客户。他的经验包括在丹麦奥尔堡大学担任洁净室设施的技术主管数年，在那里他应用了各种技术，包括SEM、FIB、CVD、PVD、PES、AFM、激光光谱、光学、电子和离子束光刻。

延斯在奥尔堡大学获得物理学博士学位。他的研究重点是利用非线性光学测量技术、光电发射光谱和电子显微镜探测锗表面和纳米结构。

作为一名应用程序工程师，Jens很享受这个职位所提供的多功能性，从培训首次用户、运行参考样本到与该领域的专家讨论应用程序，以及开发解决复杂问题的新技术。他对新型应用非常感兴趣，拓展了EDS传统应用领域，并确保用户和客户获得所需的培训和信息，以解决他们的日常任务，最大限度地利用他们的设备。app亚博体育