如何使用OIM分析™v8优化多相样品EBSD分析的背景?

总结

获得多相样本的良好背景可能很棘手。相位之间的强度变化足以导致一个相位的过饱和和另一个相位的欠饱和。这可能会导致波段检测和模式索引出现问题。需要采取不同的办法来克服这一挑战。

在后处理OIM分析的背景选项^™v8现在允许用户选择任何可分区值的背景，以帮助他们从数据中获得最佳结果。其他索引参数（如Hough设置）也是如此。本网络研讨会将解释如何在OIM分析中利用这些背景^™v8。

演讲者

肖恩·华莱士
应用专家
EDAX

Shawn Wallace于2015年加入EDAX，担任专门从事EBSD的应用工程师。他在各种仪器方面都有很强的背景，包括EBSD、电子微探针、各种质谱和计算机断层扫描。在他的职业生涯中，他教过从博士后到本科生的各个层次的研究人员如何使用仪器，他在EDAX继续这样做。

肖恩在南卡罗莱纳大学获得地质学硕士学位。他的研究重点是icp -质谱法和地热气压法的方法开发，以帮助更好地理解行星的差异。获得学位后，肖恩在纽约市的美国自然历史博物馆担任科学助理，在那里他帮助研究太阳系的起源，使用EBSD和其他仪器，包括计算机断层扫描3D工作。Shawn希望将这些3D技术带入快速发展的3D EBSD世界。

当肖恩不忙于采集样本的时候，他经常会在大自然中被发现，或者徒步旅行，或者钓鱼，或者只是盯着石头看。