用x射线荧光法测定铝涂层

概括

铝可用于制造耐用、高反射的光和热涂层，以及用于半导体、保护和装饰应用的涂层。x射线荧光的使用是众所周知的无损，非接触测量金属和金属氧化物涂层。通常，XRF涂层测量依赖于涂层内部产生的高能荧光x射线来测量涂层的厚度。矛盾的是，在1.486 keV处的Al(K)线对于XRF涂层测量来说相当弱。

该网络研讨会将描述铝涂料的测量方法，其允许使用Edax SMX XRF分析仪涂覆超出直接激励范围的测量。

扬声器

布鲁斯博士中锋
产品经理,光谱仪
EDAX

Bruce是EDAX的XRF产品经理，自加入EDAX以来，他已经参与XRF超过17年。Bruce持有瓦尔帕莱索大学化学本科学位和麻省理工学院化学工程研究生学位。他最初在一家为固体核磁共振建立创新样品处理设备的公司从事应用工作。app亚博体育布鲁斯参与了XRF，因为一个猎头混淆了射频辐射和x射线辐射，其余的都是历史了。

在Edax，布鲁斯也是服务经理，用于提高服务质量和响应时间的速度。