椭偏光谱-网络研讨会

椭偏光谱是一种表面敏感、非破坏性和非侵入性光学计量技术，广泛用于确定薄膜厚度和光学常数(n, k)。椭偏光谱是理想的薄膜应用领域，如半导体、太阳能、光电子、光学和功能涂层、表面化学和生物技术。更多关于使用光谱椭偏仪进行薄膜表征和分析的信息，请访问我们的椭偏学院，该学院将提供教程、网络研讨会和视频，以及一些常见问题来帮助您进行薄膜分析。

在超过25年的时间里，HORIBA Scientific提供了广泛的光谱椭偏仪，与强大和直观的DeltaPsi 2软件一起工作，和附件设计，以满足所有用户对薄膜样品的特征和分析感兴趣的需求。具有从VUV到近红外的波长范围，能够对所有类型的薄膜样品进行非原位、原位和在线原位、在线和大面积椭偏光谱测量，由于使用了固定相位调制技术和Jobin Yvon在光学方面的广泛经验，HORIBA Scientific的椭偏光谱仪提供了最灵敏的椭偏测量。请随时联系我们关于您的薄膜测量和分析需求!