app亚博体育AZOM.com-材料工程半导体/瓦法计量工具设备进料
app亚博体育最新材料和工程半导体/瓦法计量工具设备从AZM-A到Z
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帮助半导体制造技术半自动化热嵌入系统
产品简介描述半导体制造技术半自动化热录入系统
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弗里2019年2月8日 07:55:00-0500
帮助半导体制造技术半自动化热嵌入系统
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半导体/FPD/检验显微镜-MX63/MX63L
增强EVIDENTMX63和MX63L显微镜系统,以便对瓦斐斯、电路板、平板显示器和其他大样本进行最高质量的检验
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弗里2017年6月30日
半导体/FPD/检验显微镜-MX63/MX63L
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MarVision工作坊MM320使用M3软件
mahr MarVision工作坊测量MM3软件320电子部件设计处理像印刷电路板、微机部件小特征2D
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Thu,2015年2月26日
MarVision工作坊MM320使用M3软件
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MarVision视频讲习机用M3软件测量QM300
mahr MarVision视频工作坊测量显微镜QM300使用M3软件工具能够测量和/或判定几何元素,如线段、点数、距离等
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Thu,2015年2月26日
MarVision视频讲习机用M3软件测量QM300
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口袋冲浪可移植地表粗糙性mahr
mahr套接通表面粗糙格子是一种低成本工具,专门设计用于处理多类表面可追踪粗糙度测量
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Thu,2015年2月26日
口袋冲浪可移植地表粗糙性mahr
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MX61序列半导体检查Evice
Evicent MX61L/MX61半导体检验显微镜使用红外线、荧光度、微分干扰对比等观察技术提供极清晰度和图像分辨率
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弗里2014年12月26日03:32:00-0500
MX61序列半导体检查Evice
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UltraMap200-BP微信自动化Wafer宽度和扁度度量系统
UltraMap200-BP是一个弹性动画测量系统,它能使用MicroSense专利非接触自序反压技术测量卷积厚度、形状和扁平度
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弗里2014年12月12日
UltraMap200-BP微信自动化Wafer宽度和扁度度量系统
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Gage能力轮廓SP大块度量系统Bruker
多氯联苯制造厂正在开发高薄高密度互连和多芯模块子块的密度小特征高能轮廓SP大板度量
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2014年11月17日Mon
Gage能力轮廓SP大块度量系统Bruker
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高易重复性Stylus剖析器-DektakXTTM
DektakXTTMStylus剖析器来自Bruker,设计创新,一致性优于4Q.
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2014年11月17日Mon
高易重复性Stylus剖析器-DektakXTTM
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自动三维表层测量系统-NPFLEXTMBruker
布鲁克NPFLEXTM3D表层计量系统为精密制造行业提供高弹性、测量能力及优性能,
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Mon,2014年11月17日
自动三维表层测量系统-NPFLEXTMBruker