通过反射率或透过率测量薄膜厚度的软件

从CRAIC技术2021年2月24日

CRAIC Technologies™开发了CRAIC FILMPRO™软件，可与CRAIC仪器一起使用。当加入CRAIC显微光谱仪时，CRAIC FilmPro™能够通过反射率或透射率测量薄膜的膜厚值。你可以在微米尺度的微观区域和许多不同的基底上做这个。

这使得你不仅可以分析硅等基片上的薄膜，还可以分析通常用于平板显示器的玻璃或石英薄膜。你会发现软件非常容易使用和报告可以打印和保存任何计算。此外，还可以添加自动化包，从而自动监测样品表面的膜厚变化。

CRAIC FilmPro™旨在控制您的CRAIC技术显微光谱仪，并允许您获取数据和确定薄膜的微观区域的透射和反射厚度。

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引用

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美国心理学协会
CRAIC技术。(2021年2月24日)。通过反射率或透过率测量薄膜厚度的软件。AZoM。于2021年10月30日从//www.washintong.com/news.aspx?newsID=55630检索。
MLA
CRAIC技术。用反射率或透过率测量薄膜厚度值的软件。AZoM．2021年10月30日。< //www.washintong.com/news.aspx?newsID=55630 >。
芝加哥
CRAIC技术。用反射率或透过率测量薄膜厚度值的软件。AZoM。//www.washintong.com/news.aspx?newsID=55630。(2021年10月30日生效)。
哈佛大学
CRAIC技术。2021。通过反射率或透过率测量薄膜厚度的软件．AZoM, viewed september 21, //www.washintong.com/news.aspx?newsID=55630。