Polytec宣布推出新的3D光学轮廓仪产品。TopMap家族的最新成员是Micro。视图和微观。视图+。这些前沿光学轮廓仪是理想的测量粗糙度，纹理，波纹，台阶高度，和其他表面参数。
几十年来，手写分析器一直是评估精细表面特征的主要工具，如粗糙度、纹理和/或波纹度。对于那些需要更完整的表面视图或不需要触控笔接触的应用，利用白光干涉术的非接触技术已被广泛接受。
除了高(亚纳米)垂直分辨率，确定性技术还能够测量粗糙、光滑、反射、暗淡和透明的表面。此外，非接触方面是兼容大多数材料类型，如，金属，塑料，陶瓷，织物，光学等。
使用3D解决方案提供数值输出(Ra、Sa、Sq等)，可以真正创建直观的图形，可用于快速诊断制造问题和有效管理流程瓶颈。Polytec的专利环境补偿技术(ECT)，以及有助于自动化部件聚焦、结果记录和极大提高易用性的先进功能，使这些新解决方案在实验室设置或车间的理想选择。
TopMap微。视图is an easy to use and compact optical profiler. Combining exceptional performance and affordability with an extended 100 mm Z measurement range and CST Continuous Scanning Technology, Micro.View measures complex topographies at nm resolution. This convenient table-top setup features integrated electronics, with the smart focus finder simplifying and speeding up the measurement procedure.
得益于可选的ECT，即使在嘈杂和具有挑战性的生产环境中也能确保可靠和准确的测量结果。
TopMap微。视图+is designed for modularity, this comprehensive workstation allows for customized and application-specific configurations. The Micro.View + delivers the most detailed analysis of surface roughness, texture and microstructure topography. Combine 3D data with color information for amazing visualizations and extended analysis like detailed documentation of defects. The high-resolution 5 MP camera delivers incredibly detailed 3D data visualization of engineered surfaces.
编码和机动炮塔确保了目标之间的无缝过渡。微。视图+features the latest Focus Finder plus Focus Tracker, keeping the surface in focus at all circumstances. The fully motorized sample positioning stages allow for stitching and automation.
50多年来，Polytec为航空航天、汽车、消费电子、生物医学、微型和纳米技术、机械工程、生产测试和其他市场提供光学测量解决方案，以使其客户的创新和技术领先。
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