亚博网站下载隐藏ToF-qSIMS工作站单调飞行时间分析器和四曲分析器并存SIMS工具中。表面是材料与环境交互作用的工具,环境叠加、沉降、腐蚀和沾染发生,TOF-qSIMS是描述和解决该地区问题的工具ToF分析器拥有高质量范围高质量解析法,静态SIMS模式可识别材料外表的物种,特别是有机物
它可以检测到薄同原子后可能影响产品运算的污染,例如粘结链失效或涂层剥皮。在一次扫描中 ToF-qSIMS生成表层所有元素和分子图像(像素全质量谱)允许科学家实时或潜在数年后调查化学分布
亚博网站下载四极分析器用于高敏感度“深入”测量纳米精度,如测定散射或层结构等硬工程或半导体材料内应用。有了检测从氢到铀所有元素并用三维图像分布的能力,它提供极强方法描述材料顶点微量特征
亚博网站下载ToF-qSIMS工作站整合高度可靠的HidenIG20气体离子源和自动化设置,便于生产环境使用,而研究人员将享受多功能工具的更高级设置。 SIMS广泛应用到半导体、光电机、航空航天机、涂层、药厂和玻璃厂以及普通材料、冶金和腐蚀分析
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