新HyPix弧100°弯曲检测器是基于直接X射线检测技术，具有较高的2Θ范围相比于平坦的检测器
rigaku hypix-arc 100°弯曲光子计数X射线探测器
Rigaku Corporation很高兴地宣布为单晶X射线衍射应用的rigaku Hypix-arc 100°弯曲光子计数（HPC）X射线检测器的释放。Rigaku Hypix线的最新补充，Hypix-arc 100°探测器将Rigaku的弯曲HPC概念应用于更小，更敏捷的形状因子。它遵循Hypix-弧150°检测器的早期成功，这表明弯曲的检测器不仅是明智的，而且非常理想。探测器首次在11月版的晶体学时间宣布，由Rigaku专注于单晶X射线衍射的电子通讯。
由于其独特的、有益的特性，Rigaku采用HPC探测器技术为其hyix品牌探测器。高性能计算探测器在x射线光子撞击探测器时直接计数，消除了x射线到光的中间转换和随后的信号集成的需要。
HyPix-Arc 100°探测器提供了从边缘到边缘的100°角覆盖，与平板探测器相比，捕获角度大17°，为快速获取完整和冗余数据提供了更高的速度。曲率使峰值畸变最小化，即使在晶体到探测器的距离很短的情况下，衍射光束也比平面几何更接近于垂直，这提高了数据质量，使得在一次曝光中收集更多的数据，反射剖面畸变更少。根据国际晶体学联盟(IUCr)的指导方针，角覆盖足以从单个θ位置收集完整的单晶衍射数据，即使对于Cu Kα x射线波长也是如此。
由于极低的噪声特性，HyPix-Arc 100°探测器非常适合测量小和低衍射样品的衍射。计数可以持续多久，只要需要，没有暗电流或噪声建立在其他探测器看到。
在相同的条件下，同时测量高低角度的数据，以更好的缩放，更快的数据收集和减少剂量时间。探测器表面的物理大小并不是能够测量多少数据的指标，因为它还取决于晶体到探测器的距离、相对像素大小和点扩展功能或缺乏点扩展功能。
HPC探测器可以定位得更靠近样品，导致更大的表观孔径尺寸。当孔径弯曲时，它在水平方向上产生甚至更大的捕获角度，并且远远超过替代技术的平坦检测器。另一个优点是在Hypix-arc 100°检测器中发现的直接检测，导致反射更清晰，更容易解决。Hypix-arc 100°检测器可作为流行的选项提供Rigaku XtaLAB协同作用用于单晶x射线衍射分析的x射线衍射仪线。有关晶体学系统和探测器的更多信息，请访问www.rigaku.com/products/crystallography．