Bruker今天宣布推出其下一代台式Contourx 3D光学轮廓计，用于研发和制造环境中的能力表面纹理和粗糙度计量。
The white light interferometry (WLI) platform features Bruker’s new USI mode, a universal scanning mode that automatically determines the optimal measurement parameters for best metrology results, as well as Advanced PSI mode for lower-noise measurements and best-in-class, subnanometer Z resolution. Additionally, a 5MP camera and new stage design significantly boosts large-area stitching, allowing for the collection of 1000 high-resolution stitched fields.
这种功能和能力的结合，可以在许多苛刻的研究和工业应用中实现更大的方便性和生产率，范围从研究新型材料结构和表征医疗、汽车和航空航天制造的组件，到精密加工、化妆品的高精度测量，和半导体制造业。
“从我们最初的Wyko仪器开始，在高精度表面计量和成像方面持续了40多年的创新，布鲁克的光学轮廓仪以最佳的z轴分辨率而闻名，不依赖于放大率，以及对最困难的表面几何图形进行最大视场的最快测量，”肯特·赫斯副总裁兼德鲁克摩泽尔副总经理，手写笔和光学计量业务。“通过继续推动这项技术可以做的内容，Contoux系统以支撑台形式提供先前无法实现的测量功能。”
“contourx.真正的表面测量性能，特别是鉴于我们的新USI模式。这些系统将是高校生产力和纳米级表面粗糙度和学术研究的拓扑测量的新基准，工业研发，微电子，光学和传感器，“添加了Robert Cid，全球产品经理。
来源:https://www.bruker.com