继续产品创新传统和表层计量行业接受度提高,Polytec自豪地宣布引入3D光学剖面产品TopMap家族最近增加的是Micro.View和Micro.View+前沿光学剖面仪最理想测量粗度、纹理、瓦维内斯、阶梯高度和其他表面参数
数十年来,Tylus剖面器一直是评价粗度、纹理和/或waviness等精度表面特征的主体对于那些需要更完整视图表层或不适宜触点的应用,使用白光非接触技术已被广泛接受除高垂直分辨率外,确定性技术能够测量粗糙、平滑、反射性、沉闷透明面
非接触方面与大多数材料类型兼容,如金属、塑料、陶瓷、织物、光学等除提供数值输出外(RA、Sa、Sq和数个以上)3D解决方案可真正创建视觉直觉图,可用于快速诊断制造问题并有效处理流程瓶颈Politec专利环境补偿技术外加高级特征帮助部分焦点自动化、结果日志并大大增强易用性
五十余年来, Polytec为航空航天、汽车、消费电子学、生物医学、微和纳米技术、机械工程、生产测试和其他市场提供光学测量解决方案,目的是使客户能够创新技术。
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