Vanta element - s手持式x射线荧光(XRF)分析仪提供了快速的轻元素检测，价格合理，加入了成本效益高的入门级Vanta element XRF仪器家族。S型配备了硅漂移探测器(SDD)，可以分析合金中的镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)、磷(P)等轻元素。
理想的废料回收，基本PMI，金属制造和贵金属，Vanta Element-S有效地测量黑色金属，铝，铜，不锈钢，镍和金karats。分析器提供清晰的屏幕等级ID，并在几秒钟内为光元素Mg，Al和Si进行比较。其SDD检测器可以将303个不锈钢等类似的合金等级与1100之间的铝6061或6063区分开。
为了提高正常运行时间和可靠性，该分析仪的额定等级为IP54，以抵抗灰尘和潮湿，并通过1.2米(4英尺)的下降测试(MIL-STD-810G)，以帮助保护从偶然的下降或拥挤。其他保护功能包括不锈钢面板和Prolene®窗口与聚酰亚胺薄膜®网格支撑件容易粘在上面的Toolless窗口变化并剥离。分析仪在-10℃至45°C（14°F至113°F）的温度下连续地执行温度。
Vanta Element-S分析仪具有Vanta™系列众所周知的基本功能:速度、可靠性、坚固性、连通性和类似智能手机的易用性。该分析仪重约2.9磅(1.32公斤)，能够满足全天候合金和金属分析测试的要求。由奥林巴斯经过验证的Axon技术™提供动力，S模型带来了与Vanta系列的其他产品相同的高计数率和稳定性，快速的结果和ROI。
可选的无线连接，有助于工业4.0的未来防分析仪。连接到奥林巴斯科学云™无线数据共享和访问方便的车队管理工具，以及奥林巴斯移动应用程序或您的网络。该分析仪也有一个1g microSD™卡存储结果和两个USB端口方便输出数据。为了增加灵活性，分析仪兼容附件，如Vanta野外支架，土壤脚，探头盾和枪套。
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