Coxem很高兴地宣布推出EM-30桌面显微镜家族的最新成员，EM-30N。在原EM-30成功的基础上，EM-30N采用了完全重新设计的成像电子技术，以提高分辨率，在高倍放大时减少噪音，并引入了我们新的广域扫描全景模式。
EM-30N随SE和BSE探测器一起提供，操作人员可以单独、并排地查看任何一个探测器，或将其作为复合图像，以更好地理解微观结构和化学。低真空模式允许操作者在不进行任何特殊预处理的情况下对非导电样品进行成像，而内置的光学摄像机有助于管理多个样品支架，并使用我们的“Macro-Micro-Nano”样品视图简化导航。
由NanoStation软件驱动，EM-30N无缝集成了所有SEM功能和EDS程序，如成分颗粒分析，并提供先进的图像分析工具，如线轮廓分析，更准确地确定纳米级工作时的颗粒大小。自动化功能，如近实时自动亮度/对比度简化操作，帮助新手用户实现一致的结果。
可选的阀杆检测器允许EM-30N利用其30 kV加速电压能力来对标准TEM网格上的样品进行TEM分析，而可选的Coolstage允许分析-25°C至50°C的样品。