灵活的多传感器探头系统，用于触觉扫描，在5轴上的非接触式检查和表面光洁度测量，陶瓷桥CMM在所有制造环境中提供了持久性能。
由LK计量公司在德比郡的唐宁顿城堡建造的高精度ALTERA系列三坐标测量机(CMMs)已经与雷尼绍的revo2扫描系统和多传感器技术相结合，为制造商提供一个强大的五轴解决方案，检测零件的尺寸精度和表面光亮度。CMM梁和主轴的陶瓷结构是一个值得注意的设计特点，它结合了最佳的刚度-重量比，以提供卓越的响应能力，以及机械和热稳定性，以在所有制造环境中保持一致的性能。
提供前所未有的测量速度，Scantek 5多传感器包包括雷尼绍的经过验证的，直观的模式软件，用于导入数据，控制CMM，获取结果和报告，包括GD＆T（几何尺寸和公差）标记。该机器的高扫描速度提升了测量吞吐量，缩短了生产率延期，提供了全面的产品一致性意识，并防止了计量部门成为工厂的瓶颈。
SCANtek 5可提供多种标准测量体积从800 x 700 x 600毫米(8.7.6)到6000 x 2000 x 1000毫米(60.20.10)，有更大的选择。阿尔特拉的m具有1.5μm的可重复性的型号正在与Altera一起销售sl范围从0.7μm提供重复性。LK是如此确定所有这些高级机器的长期性能，即它是唯一提供10年的准确性保证的CMM制造商。
五轴三坐标测量机一到检验室或车间即可投入使用，为用户提供了竞争优势，使用户更容易赢得新工作，帮助产品更快推向市场。相比之下，三轴测量方案往往无法测量一些复杂的特征。在任何情况下，它需要恒定的加速度和减速的大型运动元件的三坐标测量机，而旋转的revo2头是同步的机器运动时，扫描，允许改变的部件几何形状，而不引入动态误差。
在高达500 mm / s的情况下扫描，没有触控笔离开组件的表面，允许每秒捕获最多4,000点的坐标，每秒捕获“在飞行”，数据采集率远远高于可能的速率使用常规探测技术。还可以将快速，单点触控程序中的速度纳入测量循环。此外，无限头部定位所提供的灵活性通过最小化对头部重构的需要来增加有效的测量体积，同时允许高度复杂的测量。对于其中一个视觉模块交换Revo-2扫描探头进一步增加了数据收集率，并且可以使用触觉方法获取的那些精确地相关结果。
通过使用不同的尖端安排和关节，详细的表面光洁度分析可以结合其他CMM测量在一个单一的操作，基本的输出是Ra, RMS和原始数据，通过标准和先进的表面纹理选项提供了广泛的补充。甚至直径小于5毫米的细孔也可以检查。长度达1米的各种更换机架可用于安装传感器、探头和样式，使测量序列期间能够自动交换。
MODUS软件具有用户可配置的界面，为创建程序提供了一个强大的平台，无论是通过教学模式或CAD模型导入通过通常的图形交换格式，或直接从CATIA, Siemens NX, Parasolid, PTC Creo或Solidworks。Windows编程环境中的向导使用会话、图形化和拖放方法，可以访问一系列宏和标准扫描例程，如螺旋扫描、圆形扫描和扫描，以确保最佳实践度量，而不需要专业编程技能。本地DMIS(尺寸测量接口标准)程序与绘图几何，尺寸和公差数据嵌入可以离线模拟，以检查潜在的碰撞之前，检查周期是在SCANtek 5上运行。
提供了丰富的文本和图形报告功能，包括系列生产的多部分检查和程序执行期间的实时报告。提供与第三方应用程序(如Excel、XML或SQL)的数据交换，以及与Q-DAS进行统计过程控制。
Scantek 5提供LK Castle Donington Technology Center的客户演示中心。最近完成的两个测试涉及5轴和3轴扫描气缸盖和航空发动机闪烁之间的比较。在前汽车应用中，在3分42秒内检查了12个阀座和指南，而不是29分13秒，吞吐量近7倍。在包含29片的薄膜的情况下，完成每片叶片的九个截面，八个纵向和两个根剖面扫描，加上一个环形剖面扫描，总共2小时10.5分钟，使用3轴与22小时11分钟相比扫描 - 生产力提高922％。
来源:http://www.lkmetrology.com/