AXT和QUT(昆士兰科技大学)很高兴地宣布，QUT刚刚订购了TESCAN S8000X Xe等离子体FIB-SEM。S8000X是下一代FIB-SEM，具有无与伦比的多功能性、超高分辨率成像和高速纳米加工能力。它将成为QUT中央分析研究中心(CARF)的旗舰仪器之一，并将在未来几个月安装。
新型TESCAN S8000X Xe等离子体FIB-SEM。
最近发布的S8000X下一代FIB-SEM结合了TESCAN的新BrightBeam SEM柱和他们的新iFIB+聚焦离子束柱。BrightBeam SEM柱为用户提供真正的无场、超高分辨率(UHR)成像。甚至电子光学特性,提高分辨率较低的光束的能量,使它适合检查甚至最具挑战性的导电标本和完美的不断增长的需求的研究涉及材料科学的前沿方面,如纳米技术、纳米材料、半导体、亚博网站下载亚博老虎机网登录以及在生命科学和地球科学中的应用。亚博老虎机网登录
新的iFIB+ Xe等离子FIB柱提供了无与伦比的视野，能够进行大面积横切，并提供最高水平的自动化。Xe等离子体将使QUT研究人员能够以比传统镓(Ga)光纤芯片快50倍的速度在纳米尺度上进行研磨和制造。
此外，使用Xe避免了Ga注入所带来的缺点，即容易改变样品的物理性质或使其中毒。此外，与Ga相比，由于材料中Xe离子的范围有限，因此会产生更小的非晶层。亚博网站下载S8000X还允许实时扫描电镜监测FIB磨粉过程。
S8000系列sem和fib - sem也受益于TESCAN的新Essence用户界面。易于定制的界面可以根据用户的需要进行定制。每个用户都可以拥有自己的面向应用程序的界面，可以访问他们需要的特性和功能，而那些他们不需要的特性和功能可以被隐藏起来。从本质上讲，用户界面提供了更快、更顺畅的仪器操作，并将增强各个体验层次的操作人员的用户体验。
他们的系统将配备顶级的EDS(能量色散x射线光谱)和EBSD(电子背散射衍射)探测器，用于三维化学和微观结构分析。S8000X还可以集成ToF-SIMS作为后续升级。这次升级提供了空间分辨率(可达50纳米)和极高表面灵敏度的3D化学测绘的最终组合。ToF-SIMS还可以检测元素周期表中的所有元素和同位素，超过了EDS等其他技术。
CARF研究基础设施专家(聚焦离子束)Annalena Wolff博士将负责管理TESCAN S8000X，她说:“我们对将新系统引入我们的实验室感到非常兴奋。它将帮助我们的研究人员保持在科学的前沿，我们期待与TESCAN合作，帮助更广泛的受众更容易获得FIB技术。”亚博老虎机网登录
CARF高级研究人员(显微镜)Jamie Riches博士补充说:“我们有一个庞大的用户群，他们渴望使用这个新系统，因为他们知道这将有利于他们在诸如地球科学、生命科学和材料研究等领域的研究。”亚博网站下载亚博老虎机网登录他补充说:“S8000X的大面积横截面能力为地球科学和生命科学打开了FIB-SEM技术的窗口，这通常需要具有纳米分辨率的大面积横截面分析，而Ga FIB-SEM无法进行研磨。”亚博老虎机网登录
Wolff博士和richards博士以及QUT非常感谢澳大利亚研究理事会(ARC) LIEF资助计划，该计划使这一重大购买成为可能，这将有助于加强他们的研究实力，并使更广泛的社区能够获得这一尖端技术。
TESCAN S8000X FIB-SEM是AXT广泛的显微镜和显微分析产品组合的一部分。它伴随着来自世界各地的其他产品和分析技术。详情请访问www.axt.com.au。