在德国Control展上，Alicona推出了最新的光学三维变焦测量仪器——CMM。该供应商表示:“这是生产测量技术的新标杆。”
三坐标法是目前同类中精度最高的纯光学微坐标测量系统。用户结合触觉坐标测量技术和光学表面测量的优势，仅用一个传感器即可测量元件的尺寸、位置、形状和粗糙度。这种新型的µCMM提供了几种光学三维测量的高几何精度，能够在很短的时间内测量最小的表面细节，包括精确确定位置。
三维测量只在相关测点进行，因此在很短的时间内进行。用户只用一个传感器测量表面粗糙度和GD&T特性，公差在个位数的µm范围内。可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅等，包括亚光、抛光、反射组件。亚博网站下载简单的操作是由单按钮解决方案，自动测量序列和人体工程学操作面板，如专门开发的控制器。空气轴承轴与直线驱动，使使用无磨损和高精度，快速测量。这使得固相CMM成为生产中永久使用的理想材料。
灵活、可扩展、可自动化
µCMM的设计方便，灵活，可扩展的使用，由多个操作人员。这是通过一系列选项实现的，扩大了光学三坐标测量机的应用范围，最大限度地扩大了生产测量技术的应用领域。例如，电动化的“Real3D旋转单元”将3轴系统转变为5轴系统，使用户可以从多个任意角度测量组件。这允许非接触测量表面特征，如侧面角，倒角，螺纹节距或下切。
测量系列的自动化是由“AutomationManager”自动化界面实现的。因此，全自动三坐标测量机提供了表面粗糙度参数和GD&T特征的全自动测量和评估。管理员定义相应的测量程序，由操作员(如生产中的操作员)按下按钮启动。通过下拉菜单或条形码扫描仪选择要测量的程序。测量结果完全与操作者无关。基于现代制造理念下的集成生产理念，CMM也已准备好投入使用。在工业4.0或智能制造中，机器、生产系统和测量仪器相互连接和通信，以实现自适应和自我控制生产。