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2017年在显微镜和显微分析会议今天礼物XMethod力量,世界上第一个软件包分析单个或多个层的组成和厚度,根据获得的样本数据激励与XTrace micro focus x射线源的扫描电子显微镜(SEM)。软件能够表征薄膜和多层结构的厚度从几纳米到40微米不需要交叉切片样本。
相比,样本与高能电子激发,x射线激发收益率显著提高检测的局限性,特别是对于higher-Z元素,也使获取信息的材料几十微米表面下。这些特性使得XMethod结合XTrace层的厚度和成分分析的理想工具堆栈SEM。典型层厚度应用包括焊料插脚的分析或印刷电路板,铅帧和芯片载体,以及涂料的太阳能电池。
XMethod软件包含了一个强大的方法编辑器,它允许创建standardless或基于标准的多层量化方法和校准。
作为独立的Micro-XRF工具的领先供应商,我们自豪于随着XMethod的引入,SEM用户现在也可以利用Micro-XRF分析薄膜的技术,多层结构或涂料。
产品管理高级主管Andreas卡尔,纳米分析部门力量