图片来源:Horiba Scientific
HORIBA Scientific，光谱椭偏仪的全球领导者超过25年，骄傲地宣布推出他们的新UVISEL Plus，模块化椭偏仪，其中包括最新的采集技术，旨在更快地测量薄膜样品，比以往任何时候都更准确。
FastAcq，最新的采集技术，是基于双调制，设计用于真实世界的薄膜表征。基于一种新的电子数据处理和高速单色仪，新的FastAcq技术可以在3分钟内完成190 - 2100nm的高分辨率样品测量。沿着测量范围不断调整光谱分辨率的可能性使扫描样本更智能和更快。UVISEL Plus还引入了一个新的校准程序，提供更快的性能和精度。
由于其设计，在光路中没有旋转元件和其他组件，HORIBA的UVISEL系列相位调制技术已经成为行业标准，提供最纯和高效的偏振调制，用于精确的椭圆参数测量。该光弹性调制器的优异偏振调制能力为测量沉积在玻璃基板上的临界薄透明层提供了最高的灵敏度。
UVISEL Plus的设计增强了薄膜测量的灵活性，为50µm的图案样品提供微点，从40°到90°的可变角度，一个自动水平绘图平台和各种配件，使其可扩展，以满足您的所有应用和预算需求。从190到2100 nm的光谱范围只有两种UVISEL Plus配置:190-920 nm和近红外扩展到2100 nm。易于升级是UVISEL Plus的一个标志，以满足您未来不断要求的应用程序。由最先进的DeltaPsi2软件平台驱动，以及具有直观的工作流程加速数据收集和分析的自动软界面，UVISEL Plus允许用户从新手到专家执行薄膜测量具有最高的精度和灵敏度。
UVISEL Plus及其FastAcq技术是材料研究和加工、平板显示、微电子和光伏领域中最通用的薄膜厚度和光学常数测量光谱椭偏仪。亚博网站下载
UVISEL Plus被认为是终极材料科学的参考椭偏仪。亚博网站下载亚博老虎机网登录
UVISEL Plus附带现场安装和培训，技术支持，和应用支持，以帮助优化您的薄膜建模。欲了解更多信息，请点击这里http://www.horiba.com/uviselplus