介绍相关AFM-SEM-EDX分析的领先解决方案。
互补技术的组合是对微型和纳米世界的新见解的关键成功因素。AFSEMTM值使您可以轻松地将三种最强大的分析技术组合 - AFM,SEM和EDX - 大大扩大相关的显微镜和分析可能性。
这个录制的网络研讨会纳米水和getec.探讨相关AFM-SEM-EDX分析中最近的进步,并展示了如何将这些技术结合在交互式实验中。
涵盖的主题包括:
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AFSEM的介绍和概述TM值系统 |
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兼容现有SEM和其他附加组件 (例如拉伸阶段或纳米印线) |
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最近的应用进展 (例如,原位粗糙度和电导率分析, 相关性SEM / EDX / AFM,3D断层扫描) |
专家通过观众在视频结束时回答申请和仪器问题。
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Afsem网络研讨会(2017年3月15日)