CRAIC技术rIQTM设计帮助法证科学家快速精确易用ASTME1967方法测量玻璃折射索引
CRAIC技术公司是世界显微镜求解主创者,它与实验室成像师S.r.o.联手介绍显微镜求解RIQTM亚博网站下载智能分析微量证据 rIQTM表示反射索引量化,是客户对更好解决方案需求的结果 rIQTM组合复杂图像分析软件、高级光学设计与标准参考材料,使现代法证实验室的罪犯能同时快速测量多片反射索引
RIQTM开发大有成功。CRAIC光学技术知识与跟踪证据经验并发rIQTM允诺将法证反射索引测定技术提升到下一层次玻璃碎片常见于犯罪现场 RIQTM使法证科学家能够以异常高精度测量并比较最小玻璃碎片反射索引 。当与CRAIC技术显微分光计和微色素相加时,玻璃证据传输和流频分光器也可以用同一种工具快速精确测定并全部
博士Paul Martin,CRAIC技术主管
rIQTM自动化系统使用标准ASTME1967定义的热沉浸法测量微镜碎片折射索引,系统综合多年玻璃分析经验,允许用户同时用复杂分析技术分析多片碎片折射索引,统计分析方法也可以应用到数据上,工具设计也方便用户使用短学习曲线
rIQTM提供单机包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包包附加包可与许多CRAIC技术微分量计模型合并过去和现在,以允许它们测量颜色、吸附微分量TM、荧光微分量TM和最小玻璃碎片反射索引
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