在2016 Analytica大会上，布鲁克推出了S4 TStar，这是一款全新的、独特的全反射x射线荧光(TXRF)光谱仪，用于超痕量元素分析，广泛应用于制药、食品和环境监测等领域。
S4 TStar是专门为满足监管日益严格的领域中日益增长的需求而设计的，例如根据欧盟和美国药典新标准检测金属污染或监测制药生产中的催化剂元素，食品行业的新产品开发和质量控制，包括全球化供应链中原材料的可追溯性和验证，或废水、泥浆和废水污染物的控制。亚博网站下载
S4 TSTAR具有高达三种不同的X射线激励模式和高性能，大面积XFLASH®硅漂移检测器（SDD），以确保从钠到铀的所有元素的检测极低限制。
自动样品更换器提供最多90个样品的总容量，可以使用最多10个样品托盘装载。根据应用，专用托盘可用于不同种类的反射样品载体，例如石英盘，显微镜载玻片或硅晶片。这种独特的灵活性，与样品制备的非常适度的要求相结合，使S4TSTAR成为分析众多样品类型的最通用工具，包括溶液，悬浮液，固体，晶片，细胞培养物，涂片和薄部分。
S4 TStar独特的SampleCareTM概念，具有减少内部空气流量，一个特殊的集成样品外壳和可堆叠的存储盒，不断保护样品在制备，运输和测量期间免受污染，以保持高数据质量。
S4 TStar专为工业日常分析中的连续24/7多用户操作而设计，支持自动化批处理和无人值守操作，例如隔夜操作。该软件允许定义关键阈值或置信度限制，并在超过关键阈值时提供警告。S4 TStar也是第一台在后台自动运行QC程序的TXRF光谱仪，利用内部QA样品，监测和稳定关键的系统参数。
随着检测限的显著提高，结合自动QC程序，强大的软件选项，以及在样品类型和载体方面的独特的多功能性，S4 tstarts在性能、自动化和台式TXRF光谱分析质量方面设定了新的标准，可以视为一种有效的补充。或者是ICP-MS的真正替代品。
Armin Gross博士，产品经理TXRF在Bruker的Nano Analytics