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aFM广度用于纳米级成像分析,并在推进薄膜涂层研究中发挥了不可或缺的作用, 并说, “ 最令人振奋的是当今可获取的超出3D基本地形和粗糙度的多项测量方法,如测量纳米电特性和纳米机特性量化模式(存储模数和损差脱序)。亚博网站下载最先进工具,如庇护研究CypherAFM高分辨率快速扫描很容易捕捉各种材料的动态过程深入Webnar为学术界和业界科学家提供极佳资源,他们想更多地了解薄膜定性最新AFM技术
Jason Li应用主管 庇护研究
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