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用于超高压热脱附研究的质谱仪系统

这个隐藏式TPD工作站提供了一个多功能平台,用于在温度范围为50℃的超高压压力下精确控制热脱附研究(TDS)ºC至1000ºC

常见的应用包括硅片和薄膜涂层的脱附研究,金属析氢的量化。

样品台的温度梯度完全可编程,速率为每分钟40oC,由一个隔热板覆盖,该隔热板包括水冷,以最大限度地减少排气和样品之间的冷却速率。通过超高压负载锁定和样品传输机制实现快速样品加载和提取,保持最佳初级真空质量。样品,通常为近1厘米的晶圆形式。方形,正位于样品台上,以确保与加热器表面有效热接触。

四极质谱仪也带有水冷夹套,安装在靠近样品表面的接收孔处,用于最佳捕获逸出气体,300 amu Hiden 3F PIC系统具有快速数字检测系统,具有7年动态范围,用于最佳量化逸出峰轮廓。样品温度直接与TPDsoft控制和采集程序合并,用于结合呈现多种进化物种和温度。

有关此产品或任何其他Hiden分析产品的更多信息,请联系Hiden Analytical,网址为[受电子邮件保护]或参观主网站.

引证

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    隐藏分析。(2019年,2008年2月)。用于超高压热脱附研究的质谱仪系统。亚速姆。于2021年10月3日从//www.washintong.com/news.aspx?newsID=45526.

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    隐藏分析。“用于超高压热脱附研究的质谱仪系统”。亚速姆. 2021年10月3日.

  • 芝加哥

    隐藏分析。“用于超高压热脱附研究的质谱仪系统”。亚速姆。//www.washintong.com/news.aspx?newsID=45526. (查阅日期:2021年10月3日)。

  • 哈佛

    隐藏分析。2019用于超高压热脱附研究的质谱仪系统. 亚速姆,2021年10月3日浏览,//www.washintong.com/news.aspx?newsID=45526.

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