高速表面计量与新S onix

Sensofar计量发布了一种新的高速非接触式3D表面传感器-年代onix

S onix是一种新型的、超紧凑的表面计量系统,专为高速在线过程测量和过程控制任务而设计。

它是专门为表面测量应用而设计的,需要快速、非侵入性地评估技术表面的三维微纳米几何结构,包括表面粗糙度、纹理和结构,以及厚度测量,垂直分辨率可达1纳米。

为了实现这一性能,S onix传感器头采用了单一的测量技术(干涉- VSI),但结合了特殊的测量算法和高速vga分辨率摄像机,非常适合在高帧率下成像条纹。其结果是,该系统能够执行高分辨率的表面计量测量,速度比市场上的同类系统快7倍。

S onix配备了一个单一的、白色的、长寿命的LED光源,一个高速相机(高达350帧/秒)和一个单一的、特定用途的目标。传感器头无运动部件,长期稳定,测量重复性好,使用寿命长。当完全集成到生产系统时,固定的(和自动化的)测量参考框架也提供了更好的过程优化的途径。

新开发的软件界面SensoSCAN 6,提供了更直观的界面,以及与当前的表面测量基准(如ISO标准)的兼容性。SensoSCAN还包括可定制的工具功能和新的强大的分析算法,这些算法是专门为自动化内联流程应用程序设计的——使用提供的SDK,所有这些都很容易在系统范围内访问。

该S onix已设计用于需要高速计量解决方案的表面测量应用,非常适合应用于汽车,航空航天,激光标记,LCD,微电子,微制造,纸张涂层,半导体和模具行业。

更多关于S onix的信息可以找到在这里

引用

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  • 美国心理学协会

    Sensofar计量。(2019年,08年2月)。高速表面计量与新S onix。AZoM。于2021年10月02日从//www.washintong.com/news.aspx?newsID=45448检索。

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    Sensofar计量。“高速表面计量与新S onix”。AZoM.2021年10月02。< //www.washintong.com/news.aspx?newsID=45448 >。

  • 芝加哥

    Sensofar计量。“高速表面计量与新S onix”。AZoM。//www.washintong.com/news.aspx?newsID=45448。(2021年10月2日生效)。

  • 哈佛大学

    Sensofar计量》2019。高速表面计量与新S onix.AZoM, viewed september 21, //www.washintong.com/news.aspx?newsID=45448。

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