EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析,并具有更好的检测极限

新的SDD旨在显着提高广泛应用的元素分析功能1000Thermo Scientific ARL Quant’x EDXRF光谱仪的检测器利用1,000微米的硅晶体,是市场上硅漂移探测器的厚度的两倍以上。

配备了SDD1000检测器提供的计数速率比该仪器的先前检测器高四倍,并具有更好的分辨率,从而提高了检测的限制和三倍的测量。最先进的硅晶体的厚度为检测重元素提供了增强的灵敏度。其较大的活跃区域为更轻至更重的元素提供了更好的性能。

关键应用程序:环境,电子,汽车/机械,采矿,取证,水泥,矿渣,石油和石化,油漆和聚合物,宝石学。

特点与优势:

  • Improved limits of detection: Wider range of elemental analysis across the periodic table
  • Faster performance: Rapid, accurate analysis of small and large samples (2 mm to 30 cm)
  • Quick start-up: Spectrometer with SDD1000探测器可以在一夜之间停止并在不到三分钟内重新启动
  • Broader active area: Captures more photons for better analysis

网站:www.thermoscientific.com/quantx

Citations

请使用以下格式之一在您的论文,论文或报告中引用本文:

  • APA

    Thermo Fisher科学。(2019, February 08). New Silicon Drift Detector for EDXRF Elemental Analyzer Enables Faster Analysis With Better Limits of Detection. AZoM. Retrieved on August 08, 2022 from //www.washintong.com/news.aspx?newsID=44884.

  • MLA

    Thermo Fisher科学。“用于EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析检测限制”。AZoM。08 August 2022. .

  • Chicago

    Thermo Fisher科学。“用于EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析检测限制”。azom。//www.washintong.com/news.aspx?newsid=44884。(2022年8月8日访问)。

  • Harvard

    Thermo Fisher科学。2019。EDXRF元素分析仪的新硅漂移检测器可以更快地分析,并具有更好的检测极限。Azom,2022年8月8日,//www.washintong.com/news.aspx?newsid=44884。

告诉我们你的想法

您是否有评论,更新或想添加到此新闻故事中的任何内容?

留下您的反馈
您的评论类型
提交