力量介绍了新的OPTIMUS™TKD检测器头，用于透射菊池衍射(TKD)的扫描电子显微镜(SEM)。这种创新的新产品的特点是一个水平荧光屏，可以直接放置在电子透明样品下面。OPTIMUS™可与所有Bruker e-Flash EBSD检测器的标准检测器头互换使用，使用同一检测器可以轻松访问EBSD和TKD。
OPTIMUS™TKD检测器头
OPTIMUS™TKD检测器头部提供了最佳的几何条件，与只使用垂直屏幕的标准EBSD检测器相比，具有两个主要优势。首先，在信号最强的地方获取信号，其次产生的图案显示出可能的最低失真。
由于OPTIMUS™提供的信号增益，用户可以使用相同的SEM探针电流更快地获取数据，或使用较低的探针电流获得更高的横向空间分辨率。
此外，还可以降低SEM加速电压，从而改善非常薄的样品的分析，因为低能电子更有可能在晶粒晶格上衍射。第二个优势，最小的图案失真，导致进一步提高波段检测和索引精度。
OPTIMUS™也可用于获取选定区域电子衍射(SAED)模式，与传统透射电子显微镜中看到的非常相似，但成本和努力的一小部分。
将ARGUS™直接电子检测系统集成到OPTIMUS™中，同样受益于理想的几何条件。ARGUS™在透射模式下获取的暗场和亮场图像显示纳米级微观结构特征，以及变形材料中的单位错或位错壁等细节。亚博网站下载
OTPIMUS™TKD检测器头部设计与所有Bruker e-Flash EBSD检测器兼容。经过培训的用户可以在不到20分钟的时间内轻松升级现有的检测器。根据手头的测量任务，用户可以在TKD和EBSD分析之间切换。新的OPTIMUS™TKD检测器头与布鲁克的TKD样品夹以及布鲁克的XFlash®EDS检测器完美结合。