领先的半导体测试设备供应商app亚博体育Advantest Corporation将展示其全系列的测试解决方案,旨在使包括自动测试设备(ATE),太赫兹测量系统,多视觉扫描 - 电子显微镜(SEM)和E-SEMIC扫描 - 电子显微镜(SEM)和电子束光刻系统提供了全系列的测试解决方案app亚博体育西2015年贸易展,将于7月14日至16日到旧金山的莫斯恰中心。
产品和示范在最优秀的展位#6143,北大厅
Advantest将亮相两种新产品:T5833系统,能够晶圆排序和几乎任何NAND闪光灯或DRAM设备的最终测试,以及T2000 28G OPM,该公司的第一个模块设计用于测试使用的高速光学收发器通过光纤发送和接收数据。其他展位显示器将突出显示多功能V93000平台的功能在改善多站点射频(RF)应用中的质量(TTQ)并测试IOT设备;M4871和M6245用于系统和存储器IC的测试处理程序;用于快速CMOS图像传感器的T2000 ISS;用于集成功耗测试解决方案的T2000 IP;和T6391一体化系统,用于测试高速,高针计数显示驱动器IC(DDI)。对于先进的计量和纳米图案化应用,展位将包括在IC模具厚度和电气故障分析TDR的非破坏性检查中的优雅TS9000太赫兹测量系统上的展示。该公司的E3310,E3640和E5610 SEM,用于检查下一代晶圆,光拍摄和空白;和F7000电子梁光刻工具,用于10-NM技术节点及以下纳米加工挑战。
还在展览中展示将显示EVA100测试仪的用于数字和模拟测试的小针数半导体的测试仪;Advantest的CloudTesting™服务;和SmartBox™ - 智能手机,平板电脑和物联网设备的创新,生产和销售点诊断测试解决方案。Smartbox是由W2BI,Inc。的由W2BI,Inc。开发的公司。
今年提名的最佳论文
此外,来自Advantest和合作伙伴公司的技术作者被提名为2014年最佳的ATE文件,在Memicon West 2015年在测试愿景中展示的行业荣誉在测试愿景中。本文最初在去年11月的杭州IEEE亚洲测试研讨会上呈现出“基于ATE的32-GBaud PAM-4 AT-Speed Soluatization和Testing Solutions”的论文。
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