2015年2月9日
PANalytical世界领先的X射线及相关技术分析仪器和软件供应商，宣布其免费网络研讨会“铝工业电解槽分析的现代解决方案”。
网络研讨会将于2015年2月12日举行，由荷兰PANalytical B.V.XRD应用专家Nicholas Norberg主持。
本次网络研讨会将解释几种使用x射线衍射(XRD)作为铝工业过程控制的标准工具进行电解槽分析的方法和选项。
讨论和比较了从XRD谱图直接测定标准和非标准镀液中过量氧化铝(exAlF3)、浴比(BR)和相组成的不同方法。
本次网络研讨会的目标人群为:铝冶炼厂过程控制部门的操作人员和管理人员，从事采矿和金属行业过程控制解决方案研究的学术XRD专家，以及所有对新型XRD方法感兴趣的分析界人士。
网络研讨会详情
- 标题：铝工业电解槽分析的现代解决方案
- 日期:2015年2月12日
- 时间:美国东部时间上午10:00(欧洲中部时间下午4:00)
- 持续时间：45分钟
- 主持人:Nicholas Norberg, x射线衍射应用专家，PANalytical b.v.，荷兰
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有关PANalytical定期网络研讨会的更多信息，请参阅www.panalytical.com/webinars