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隐藏分析发布SIMS有潜力面分析器

二级离子质谱学是一种多功能高度敏感技术,从原子层到100米深度对表层进行构件分析

隐藏分析app亚博体育扩展最新数组SIMS系统以提供设备规范水平选择以适应广度预算能力,同时保留随后扩展至顶级规范的潜力

UHV完全兼容并用Hiden双模MAXIM质谱仪操作二级离子模式和二级中性数据量化模式

输入级基础系统配有IG20微焦值(50微米)氧/弧离子枪、多样本持有器和主离子波束监视器

提升版SIMS工作站配置高吞吐速率并加装样本装锁和样本操纵器,并配有电荷中和电子洪喷枪和系统拆解设施

SIMS工作站加法最综合规范,加法IG-5C电磁离子枪

MASOS专业SIMS个人计算机系统提供正负离子和中性物种自动测量允许完全控制质谱仪、离子枪操作参数和离子光栅面积和扫描速率,并实时提供所得数据ESPLAVEWSIMS成像程序获取、存储并显示数据以2D3D视图能力元素表层地图形式展示

深入了解Hiden分析产品联系人Hiden分析[email protected]或访问主网站www.HidenAnalytical.com.

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