2014年真空博览会推出新的紧凑型SIM卡

隐藏处很高兴地宣布推出紧凑型SIMS，这是表面分析的设计突破，2014年的真空博览会，10月15日和16日Ricoh竞技场，考文垂英国。在展位v10访问它们。

Compact SIMS工具设计用于敏感检测的层结构，表面污染和杂质的快速且易于表征，其正离子被氧伯离子束辅助的正离子，并在整个周期性表中提供同位素敏感性。离子枪几何优化以理想的是纳米深度分辨率和近表面分析。

旋转传送带使10个样品可以同时装入干抽真空室进行测量。该仪器占地面积小，非常容易使用，它拥有与全功能Hiden SIMS工作站家族相同的控制软件和离子枪系统，提供深度剖面、3D和2D图像和质谱数据。最大- 600p探测器是基于高可靠的隐藏6mm三重四极质量滤波器与脉冲离子检测。电子枪可用于绝缘样品的分析。

除SIMS之外，Compact SIMS还具有SNMS设施，可用于量化高浓度元素，例如合金。

应用程序：

• 太阳能电池
• 玻璃涂料
• 金属薄膜

特征：

• 占用空间小
• 易于用户友好的布局
• 积极的sims和snms
• 深度剖析
• 3D表征和成像
• 质谱
• 同位素分析
• 纳米尺度分析

有关此或任何其他HIDEN分析产品的更多信息，请访问2014年真空世博会的Hiden分析展位V10，或者与Hiden分析联系：(电子邮件保护)或访问主要网站www.HidenAnalytical.com。