新的尼康计量BWSLI显微镜系统
基于尼康行业引导双波干涉目标 尼科恩度量法发布数列白光插图系统 命名BW序列
图形层用BW串显微镜测量照片由Greapene工业有限公司Peter Blake博士提供
焦点变异与WLI向前移动技术,有效高度分辨率为15m
公司通过将新技术整合到现有的工业研究级显微镜中,使WLI与标准光学技术相结合,如光场、黑场、极化光线、DIC(偏差干扰对比)和上浮性,使BW数列真正多功能成像系统
高高速高分辨率摄像头范围尼康二维目标派索目标鼻孔手动或电动机扫描阶段,所有阶段都允许系统量身定制以适应客户需要和预算
BW序列焦点变异应用WLI显微镜包括对玻璃、陶瓷、硅片、球轴承、图像传感器、薄膜、石墨、模版、橡胶、金属和塑料的表面和粗度分析
关于Nikon元数据
尼康度量法为从微型电子学到最大飞行器等应用提供最广范围计量学解决办法尼康度量法创新测量精度工具有助于高性能设计跨制造过程,使制造商能够在较短时间内交付溢价质量产品更多信息可上网获取www.nikonmetrology.com