校准标准专家怀特豪斯科学是由RSC的粒子特性兴趣小组组织的2014年“粒子系统分析会议(PSA)”的赞助商。
第12届PSA会议和展览将于2014年9月15 - 17日在英国曼彻斯特举行。来自Whitehouse Scientific的专家将发表两篇论文，探讨如何将图像分析作为一种有效的解决方案，用于校准和验证颗粒尺寸和形状是关键参数的工业过程。
Whitehouse Scientific的首席执行官Graham Rideal博士说:“Whitehouse Scientific很高兴赞助今年的微粒系统分析会议。每年，PSA都为在整个科学行业工作的人们提供了一个很好的平台，可以自由地分享粒子分析方面的知识和经验。我们期待在今年的会议上发挥更大的作用，并分享我们最近在开发更有效的方法校准和验证图像分析解决方案方面的一些工作。”
“静态图像分析-校准和验证中的关键元素”将由Whitehouse科学高级科学家和皇家化学学会研究员Keith Brocklehurst提供。本文研究了影响和扭曲粒子图像分析的因素，以及可用于解决这些问题的校准和验证技术。
Graham Rideal随后将介绍“通过挑战测试分析3d编织不锈钢网格孔径的颗粒形状的重要性”。该报告探讨了图像分析是如何成为提供NIST可追踪5微米复杂斜纹网格结果的唯一校准技术。
Whitehouse Scientific团队将全程在场，讨论颗粒大小和形状特征的各个方面，并就校准标准的应用提供专家指导。
今年的PSA2014会议和展览将与一系列科学、技术和工程部门相关，并有一个重点部分是工业上重要的超细气泡的特征。
有关Whitehouse Scientific访问提供的产品和服务的更多细节www.whitehousescientific.com