Graham Rideal博士，校准标准公司首席执行官Whitehouse Scientific，将在中国北京（2014年5月19日至22日）举行的第七届世界颗粒技术大会（WCPT 7）上就“校准试验筛孔径”主题发言。
怀特豪斯科学有限公司首席执行官格雷厄姆·里德尔博士将在第七届世界科学大会上发言。
参加仪器和方法会议的Rideal博士将介绍与Whitehouse科学公司推出的一种新的光学筛校准方法有关的工作，该方法基于公司的ShapeSizer图像分析仪。
Rideal博士说：“我们一直致力于扩展ShapeSizer系统的应用，现在它不仅可以用于粒度分析，还可以以NIST可追踪的方式校准测试筛。”。“与传统校准方法不同，传统校准方法仅在X和Y方向测量导线间距，新的ShapeSizer方法测量单个孔径尺寸并报告最大和最小尺寸。因此，它可以测量孔径形状以及尺寸、导线尺寸、导线数和开口面积。”
目前的ISO 3310-1:2000筛网标准(技术要求和试验-第1部分:金属丝布筛网的试验)中不包括孔径形状、筛孔数和开口面积，但这些是量化筛网性能的重要参数。
“这种新的筛分校准方法扩展了我们在这一重要领域的方法，”Rideal博士继续说道。“Whitehouse Scientific已因其筛子校准微球而闻名，该微球目前正在世界各地使用，并彻底改变和简化了在用户自己的实验室根据NIST标准认证筛子的任务。”
有关Whitehouse Scientific的筛校准解决方案的详细信息，请访问http://www.whitehousescientific.com/sieve-standards-12-c.asp