CRAIC技术启动微空间解析光谱映射

CRAIC技术全世界领先微分析解答者自豪地宣布光谱面映射TM(S2MTM)能力为UV可见NIR微分数计

s2MTM向CRAIC微光谱用户提供逐点绘制样本表面光谱响应图的能力。通过显性空间分辨率,可使用UV可视-NIR传输、吸附性、释放性、频谱和极分微光谱数据生成表层剖面图S2MTM甚至能从CRAIC阿波罗TM Raman微光谱计创建地图CRAIC微光谱仪可快速自动生成高精度光谱图

CRAIC技术开发光谱面映射TM包客户想通过光谱特征 自动测量并描述样本全面并想高空间解析Paul Martin,CRAIC技术主管S2MT打包就是这样允许用用户定义映射模式从千分收集光谱数据因为我们客户处理如此多类型微谱分析, 我们授权S2MT用同一种工具绘制UV可见NIR传输、吸附性、反射甚至发布微谱

频谱面映射TM软件插件模块使用CRAIC技术 Lambdafiem微光度软件使用CRAIC技术微分仪可编程级时,S2MT允许用户自动用用户定义映射模式进行光谱测量,以达阶段自身运动极限能力测量百万分后,可生成高清晰度样本表面响应图并由于软件的灵活性和功率, 地图可能来自传输、吸收、反射、荧光、发射甚至是极化数据Raman光谱响应程序使用CRAIC技术AFLETTM Raman微光度计时甚至可以采集和映射S2MTM为科学家和工程师以数种不同方法并用最高层细节研究样本全表层提供更多权力

欲了解更多CRAIC技术微分仪光谱映射TM能力信息访问www.microspectra.com.

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