PA剖面平面 XRF分光计

PA解析展示他们的升级Epsilon3^X级台式X射线分光计在今年AXAA大会上向公众发布(2月9-13日,澳大利亚珀斯)。

搭建第一代Epsilon3光谱仪新Epsilon3的经验和成功^X级工具使用最新推理和检测技术系统设计面向可靠简单操作并在整个周期表上提供杰出分析性能

Epsilon3^X级配有50kV推理和最新的高分辨率硅漂移检测器,以便能够分析从钠到的元素取Epsilon3^XLE系统配置比强的SDD^超大硅漂移检测器使透光元素分析成为可能,如碳、氮和氧xRF固有分析元素的富集度从ppm到100%不等,很少或不需要样本准备

高级频谱处理和最先进算法提供高精度完全可追踪数据无标准分析、指纹鉴别、守规或多层分析有各种软件选项可用最后但并非最不重要客户可以通过我们服务网络从PaNalytical支持和专门知识中获利

产品营销管理员Simon Milner X射线分光测量评论:“智能组合新Epsilon3最新引用检测技术^X级台式光分光计提供终极光分性能,匹配强强光分光计的分析性能-有时甚至超过-成本效益高和高度灵活的分析工具适合各种行业应用,如水泥生产、矿化或聚合物生产”。

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