吉时利仪器公司该公司是世界先进电气的领导者测试仪器S530参数测试系统是半导体行业用于高速生产参数测试的最具成本效益的解决方案。
这些增强证明了吉时利对s5300用户需求的持续承诺，包括系统可服务性、测量置信度和低总体拥有成本，以及吉时利对一般参数测试的承诺。欲了解更多信息，请访问http://www.keithley.com/products/semiconductor/parametrictestsys/?mn=S530．
S530诊断和系统验证工具
这款新的GUI驱动工具扩展了所有系统仪器和矩阵途径的诊断覆盖，对系统的健康提供了更大的信心。此外，用户可以运行系统验证工具，以确保S530在其已发布的系统规范中。诊断和系统验证工具会生成全面的结果文件，使其更容易与Keithley Field服务人员或系统健康中的监视趋势共享信息。总的来说，新工具可以提高用户对S530的体验，同时降低总体拥有成本。
扩展测量能力
此次升级包括多种新的测量功能，并增加了吉时利测试环境(KTE)的灵活性。KTE线性参数测试库(LPTLIB)和参数测试库(PARLIB)中使用的命令建立在Keithley三十年的参数测试代码开发经验的基础上。运行新KTE V5.5的s5300参数测试系统可以解决过程控制监视、过程可靠性监视和设备表征所需的所有I-V和C-V测量。
S530应用程序
S530系统是为了在生产参数测试环境中使用而进行优化的，这种环境必须适应广泛的产品组合，或者广泛的应用灵活性和快速测试计划开发是至关重要的。除了通常用于标准CMOS、双极、MEMS和其他相对低电压半导体工艺的200V系统配置外，吉时利还开发了1kV版本，优化了GaN、SiC和Si LDMOS功率器件所需的困难击穿和泄漏测试。为了适应系统应用范围的扩展，吉时利还开发了一个更高的系统柜，旨在容纳额外的仪器，并简化整个系统的维护