AXT PTY Ltd.，分析X射线解决方案的领先供应商很高兴地报告，它最近有两个摘要接受了2014年2月9日至13日的即将到来的Axaa（澳大利亚X射线分析协会）会议的口头演示。
已接受的摘要标题为“半导体探测器使快速XRD测量”和“在SEM中自动矿物分析应用于不同类型的矿石样本”。他们将由内部产品专家博士博士Dhaliwal和Kamran Khajehpour博士提供。
前摘要将涵盖各种类型的XRD探测器及其相对优点的研究工作。特别是，该谈话将集中在两种类型的半导体探测器上，D / TEX超250立维检测器和Pilatus 2维检测器分别是硅条检测器和硅像素检测器。最重要的是，该谈话将解决这些类型的探测器的速度和准确性，并将这些探测器对比传统上是最快的探测器系列的0维探测器，而是以牺牲精度实现这一目标。结果在rigaku生成了这次谈判，本文由日本的Tomikatsu Kubo共同撰写。
第二张纸博士博士迁至柯哈普博士，使用扫描电子显微镜（SEM）来查看矿物质的自动分析，特别是Tescan集成矿物分析仪（Tima）。该仪器提供了3种用于自动数据采集的3种技术，模态分析，解放分析和明亮阶段搜索，所有这些都将使用真实样本作为示范描述和讨论的所有这些技术。本文由捷克共和国德雷申的Veronika Kralova共同撰写。
AXT也将在Axaa会议上展出。他们将从Rigaku和Tescan Tima展示XRD和XRF系统，以及来自Katanax的电气融合珠机，来自Spex和来自俄勒冈州实验室的自动助焊机的样品压力机。
有关AXT的产品系列的更多信息，请访问www.axt.com.au或在Axaa贸易展览会上由12至14次停车。