在2013年显微镜和微分析会议上，布鲁克引入了两种新仪器，这些仪器进一步扩展了其高性能工具的组合，用于电子显微镜中的材料表征：亚博网站下载
- XSENSE™是一种新型的平行束波长色散X射线光谱仪（WDS），用于扫描电子显微镜（SEM）的元素分析。Xsense光谱仪专门为较低的能量范围设计，可提供低至4 eV的能量分辨率，从而使紧密间隔的X射线线和高度敏感的痕量元素检测能够出色地分离。
- Xtrace™是一种新的微点X射线源，可在SEM系统上使用光子诱导的微X射线荧光（Micro-XRF）光谱法，并与Bruker的能量色散X射线光谱仪（EDS）检测器结合使用。与通常用于SEMS元素分析的电子激发的X射线光谱法相比，Micro-XRF光谱法提供了检测的20至50倍，尤其是在光谱的中高能范围内，增加了功能检测和分析样品中高级元素的痕量。
- 新的Xsense WDS Analyzer使用特殊的X射线镜面光学元件，用于有效的大角度X射线收集和并行化。完全电动的3轴自动对准系统可确保焦点的快速，可重现和稳定的定位。平行梁光学元件是完全可伸缩的，并由非磁性材料制成，以避免光束移动和图像失真。亚博网站下载可以选择六个衍射晶体，可以调整XSENSE，以提供几乎任何应用的最佳条件。其高级运动学在整个扫描范围内保持了相对于X射线束的活动晶体的最佳定位，以最大程度地衍射效率。晶体和检测器之间的另外次级X射线光学器件进一步增强了Xsense WDS的峰值与背景比率和灵敏度。布鲁克的独特探测器管理系统积极控制比例计数器的内部气体压力，并自动执行所有高压和鉴别器设置。
When attached to an appropriate port of the SEM’s sample chamber, the new XTrace is using a low-power micro-focus X-ray tube and focusing polycapillary X-ray optics to produce a highly intense X-ray beam for sample irradiation with spot sizes smaller than 40 microns. Due to the alignment of the focal spot to hit the sample surface at the same position as the SEM’s electron beam, the analyst can alternatively acquire both electron-induced and photon-induced X-ray fluorescence spectra from the same sample area.
虽然电子诱导的X射线光谱可提供高空间分辨率和出色的光元检测，但具有Xtrace的光子激发在灵敏度方面较高，并且可以将痕量元素检测到10 ppm的水平。将获得的信息与两种技术相结合可以大大提高分析结果的准确性。
XSENSE WDS分析仪和Xtrace Micro X-AY源均通过Bruker的ESPRIT 2.0（Bruker的新且独特的4 in-1分析软件套件运行），该套件在单个用户界面下无缝集成了EDS，WDS，EBSD和Micro-XRF。ESPRIT 2.0不仅可以在所有四种互补方法内和之间进行直观的导航，而且还提供了组合数据以获得更高精确定量结果的各种可能性。
Bruker Nano Analytics部门总裁ThomasSchülein表示：“通过引入这些令人兴奋的新产品，我们现在为客户提供了前所未有的选择，以显着增强其电子显微镜的分析能力。作为我们用于微型和纳米分析的Quantax系统的组成部分，这两个新工具旨在提高分析SEM在整个能量谱系中的特异性和灵敏度。Xsense WDS专用于低能，光元素区域，Xtrace特别适合在中高能范围内揭示其他分析信息。我们为Bruker现在是唯一提供所有五种技术，EDS，WDS，EBSD，Micro-XRF和Micro-CT的供应商而感到自豪，它是电子显微镜的高性能附加分析仪。由于我们新的ESPRIT 2.0软件套件的完整集成，研究人员现在可以组合和整合通过这些互补方法获得的数据。结果，我们的Quantax系统现在已经演变为真正的多模式分析工具集，用于电子显微镜的综合材料表征。”亚博网站下载