卡尔蔡司显微镜有限公司,宣布将举办三场关于其创新扫描电子显微镜(SEM)产品的研讨会。
将为单独的事件举行蔡司场发射扫描电子显微镜(ΣIGMA,SUPRA®,Ultra&Merlin®系列);这CrossBeam®.(FIB-SEM);和Evo®系列SEM。这些手上的每个手都可以根据参与者的特定SEM体验程度定制,并使用参与者的样品给出有关问题和实践的充足的时间。
这FE-SEM系列车间覆盖ΣIGMA,Supra®,Ultra&Merlin®系列是2013年5月21日至22日将于2013年5月21日至22日举行的两天研讨会,2013年9月18日至19日在纽约。该研讨会包括对基本仪器原则,操作和参数调整的审查,讨论了更改参数对图像质量的影响,以及可用的广泛软件功能的概述。
三天CrossBeam®.(FIB-SEM)研讨会将于2013年5月14-16日在马萨诸塞州举行。该活动旨在开发先进的一般FIB-SEM技能,并加强和提高基于ZEISS SmartSEM®图形用户界面的软件技能。与会者将回顾电子光学、离子束光学、系统配置和应用的基本原理,以及FIB校准和校准。还将包括关于样品安装和加载、基本和高级模式、高分辨率实时成像、创建AVI文件和3D分析的实践会议。还将讨论TEM样品的制备。
这两天Evo®系列SEM研讨会将于2013年3月12日至13日在加州举行,2013年7月10日至11日在马萨诸塞州举行,2013年9月18日至19日在纽约举行。扫描电镜参数的基本原理将在其对图像质量的影响的背景下进行回顾和讨论。回顾EVO SEM的操作,用鼠标、操纵杆、控制面板、键盘和工具栏图标功能进行参数调整,在完整的基本操作模式范围内的操作,以及仪器的清洁和维护。其他主题根据参与者的不同而不同,可能包括扩展压力研讨会、相关显微镜、远程扫描电镜操作、扫描电镜自动化或STEM成像。
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