由于一种新的简单方法来纠正常见的仪器错误，现在可以更准确地对不同波长的光强度进行测量。新方法是由研究人员开发的国家标准技术研究所（NIST），将使诸如颜色测量，照明开发，遥感，生物技术和天文学等领域受益。
NIST方法提高了光谱仪的测量精度，即在不同波长下测量光辐射的设备。光谱仪在工业环境和学术研究中广泛使用，以分析灯或其他光源的排放，并分析材料的光学性质。亚博网站下载NIST方法纠正了由于弹性光，仪器中不需要的散射辐射而引起的错误。
流浪光通常是常用光谱仪的测量不确定性的主要来源。当仪器试图在某些波长下测量非常低的辐射水平，而其他波长区域中的水平相对较高时，它可能会导致出乎意料的大系统错误，即使取决于应用，甚至取决于应用。新的NIST方法几乎消除了流浪的光误差，低于总信号的0.001％，这对于大多数工业和科学应用来说是理想的水平。这允许非常准确地测量辐射的低功率组件和在大型动态强度范围内的准确测量。
NIST研究人员使用商业CCD阵列光谱仪实施并验证了该方法，该光谱仪立即测量可见区域的光。他们表征了覆盖仪器完整光谱范围的可调激光器对单色排放的反应。使用测量数据进行计算，以产生一个矩阵，以量化每个光波长的检测器阵列的每个元素（或像素）的弹性光信号的大小。然后使用矩阵校正仪器的输出信号以进行流浪光。该方法很简单且速度足够快，可以将其纳入仪器的软件中，以执行实时的弹性校正，而不会大大降低仪器的速度。
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