B&W台北授予拉曼分光计专利

B&W台先进仪表公司生产光谱和激光系统很高兴宣布自1997年公司成立以来的第18项专利

最新专利被授予设计光谱探针,直接安装到标准显微镜上,以便在显微镜上添加光谱函数,微镜光学路径最小修改

便携式拉曼分光计原附标准显微镜以转换为拉曼显微镜时,它造出比传统拉曼显微镜小因子,但成本低需修改显微镜光学路径以适应附送拉曼分光计,从而影响显微镜原创功能

B&W台北创新探针设计解决了这些问题纤维探针直接安装到标准显微镜的客观镜面上,以便添加光谱函数内含最小光学组件并精密化微小修改对显微镜光学路径无必要使用易重构的不同感应波长,探针和显微镜能够进行微采样、拉曼分析以及荧光分析

Travis Thompson表示:「我们很高兴获得第18项获批专利,不仅保持B&W台北最前沿可移动光谱学, 并允许客户前所未有地执行测量举例说,这种技术使考古学家能在实地进行拉曼微分析,测量洞美甚至古堂天花板上的绘画等事物。”

查看授予B&WTek的官方美国专利8 135 249号显微镜可登机专利调用302-368-7924

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