隐藏处SIMS螺栓质量光谱仪和离子枪可以将完整的SIM卡设施添加到不同的分析UHV表面分析设施中，最新的HIDEN EQS探头现在提供了集成的SNMS模式，以提供溅射中性和次级的双重作用离子质谱。
一个完整的SIM卡设施安装在单个CoundAt法兰上。
双技术对光学和冶金涂层，合金，腐蚀层和建筑涂层的测量有益，例如，从痕量水平到100％的全部范围内直接定量浓度。
高透明电子碰撞电离器在直接进入区域到探针确保有效地电离溅射中性的电离，以及对二次离子的最佳传输效率。SIMS和SNM可以在整个连续测量序列中组合，以通过最宽的浓度范围提供量化的深度分析数据。
完整的产品系列包括气体和金属源离子枪。探头和离子枪都需要腔室安装端口直径，直径为38mm（1.5英寸）。
有关所有隐藏分析产品的详细信息，请联系隐藏分析(电子邮件保护)或访问主要网站www.HidenAnalytical.com．