CRAIC技术，世界领先的UV-Visible-NIR微光谱解决方案的创新者很自豪地引入20/20 XL UV-Visible-NIR微光谱仪。
20/20 XL显微光谱仪设计用于通过合并大型样品处理来非毁灭性地分析非常大显示器的微观特征。光谱范围从深紫外线到近红外线，可以通过无与伦比的速度和准确性来通过吸光度，反射率，发光和荧光来完成样品的分析。
除了颜色成像外，还可以将系统配置为紫外线和NIR区域中的微观样品。由于其灵活的设计使其能够分析最大的显示器，因此应用程序很多，包括映射颜色和强度变化，膜厚度测量值，甚至扫描显示组件的表面是否有缺陷。20/20 XL微谱仪能够分析非常大的设备的光谱和图像显微镜特征，是实验室和制造设施的尖端微型分析工具。
“ Craic Technologies自成立以来一直是紫外可见的NIR微分析领域的创新者。我们通过创新的仪器，软件，研究和教学来帮助推进显微镜分析领域。20/20 XL Microspectrophotoperometer出生于我们的工业客户的需求能够分析非常大型展示的微观特征。“因此，我们倾听了我们的客户并创建了20/20 XL，这是一个由多年的设计，建筑和使用这种仪器用于光谱和图像分析的经验的系统。”
20/20 XL显微光谱仪将高级分光光度计与复杂的紫外线可见度范围显微镜和功能强大，易于使用的软件集成在一起。该灵活的仪器旨在连接到大型样品处理框架上，以便可以分析最大的显示器。它能够通过吸光度，反射率甚至发光光谱从非常大样品的显微镜特征中获取数据，此外，除了微囊测量，薄膜厚度测量，甚至在紫外线，可见的和NIR区域中进行成像。触摸屏控件，复杂的软件，校准的可变光圈和其他创新都指向微分析的新水平。具有高灵敏度，耐用的设计，易用性，多个成像和光谱技术，自动化和CRAIC技术的支持，20/20 XL不仅仅是质量控制测量工具……它是解决分析挑战的解决方案。