CRAIC技术UV显微镜和微分光计主要制造者PD308FPD:光谱光谱计设计分析单片像素的色度和相对强度
系统附属检测站或显微镜,以便获取颜色数据并相对强度对比各种类型平板显示器308FPD还能够测量微量分解变异,执行像素对像素比较,甚至可以在单像素内绘制光谱变异加上CRAIC技术QDI电影Pro软件,308FPD还可以测量薄膜厚度甚至细胞差厚度向显示器制作者提供无与伦比的能力优化并改进平面显示过程并配有多面测试解析法:308FPD分光谱计
多位客户想测量平板显示器上越小特征开发308FPD是CRAIC技术逻辑步骤Paul Martin总统308FPD特征专有光板分光谱计技术提高性能并增强弹性系统允许对高级高分辨率显示器常用微尺度进行色度测量、光谱测量和强度测量308FPD也可以配置测量薄膜厚度和成像允许用单件工具测试多维显示器
308FPD解析法将高级光片分光计与精密光学和软件相结合,使用户能够测量微尺度上的频谱、色度测量法、光强度和薄膜厚度最小像素现排序为10微米,308FPD提供能力不仅测量全显示色强度,而且比较像素和像素,甚至绘制单像素内变化图设计出生产环境后,可集成自动化测量能力、触屏控件、易修改处理配方和精密数据分析工具