JEOL美国高兴地宣布,一个新的冷了场发射枪现在可供原子分辨率分析JEM-ARM200F透射电子显微镜(TEM)。ARM200F,诞生于2009年,创造了一个新的基准先进aberration-corrected S / TEM技术分辨率最高的商用类。
现在配备可选和field-retrofittable冷FEG ARM200F的超高分辨率成像是保证在78皮米的能量分辨率0.3 eV。越高亮度和源冷FEG生产规模小,具备更显著更大的探测器的电子探针电流,导致增强的一个原子成像和化学分析。此外,狭隘的电子发出的能量分散鳗鱼的冷FEG使原子分辨率分析精细结构,可用于确定诸如电子性质。附近的超高真空电子源保证高电子探针电流的稳定,同时电力系统稳定10 - 7维护结果非常狭窄的能量传播的电子探针。
“添加冷FEG手臂家庭增加了另一个箭头JEOL颤抖的原子尺度成像和表征。此增强功能可以执行sub-Angstrom成像和原子列化学与准确性、速度和缓解从未见过,”托马斯Isabell博士说,美国JEOL TEM产品部门主管。
的JEOL ARM200F电子列集冷FEG、S / TEM和Cs修正一个无与伦比的,极稳定的设计。优越的屏蔽保护气流的ultrahigh-powered光学,振动、声学、电磁、电子、热干扰。
第一ARM200F冷FEG将安装在美国佛罗里达州立大学应用超导中心,安置在国家高磁场实验室。