CRAIC技术UV显微镜和微分光计的主要制造厂商,高兴地宣布20/20太阳微分光计20/20太阳仪表设计用来测量薄膜厚度以及光学效率和光电电池清晰度可同时传输反射太阳电池是传统晶体硅子串或薄膜子串连保护镜集模块都可分析效率
强工具还包含多项函数可与CRAIC技术专有污染成像能力合并定位并识别过程污染物正因如此,20/20太阳表示光电产业在计量仪表方面向前迈出了一大步。
多位客户想测试光电设备的质量 以快速控制产品质量20/20太阳微分数计是为了响应客户对强软计量工具的请求而搭建的,Paul Martin总统多功能工具可配置测量薄膜厚度,分析光学效率及光谱特征太阳电池及其组件,查找并识别生产过程污染物更多
完全20/20太阳解析法将高级微光镜与精密软件合并使用,使用户能测量传输性、反射性及光度亚博网站下载也可以通过传输或反射多类材料和子串来确定薄膜厚度可用它测量传输率和反射性 多元件制造光电池,如集聚器由于CRAIC技术设计的灵活性,采样区范围从跨100微米到小于一微米不等。亚博网站下载设计为生产环境,它包含多项易修改计量配方、测量新电影和材料能力以及分析数据精密工具以及自动化选项,包括触屏控制污染分析等其他特征很容易添加到本工具中