四极质谱新组Hiden应用UHV和XHV

隐藏分析引入四级质谱计组专为UHV/XHV性能设计,从Hiden3F序列概念演化并加进三级质量滤波技术优化质量分离、离子传输效率和污染抗

脉冲计数检测全数组常见于最高敏感度和最快响应时间,选择偏向正离子检测或组合正负离子检测

四极平均能量扫描功能用于配置系统分析外部生成离子,使离子能分布测量和中性分析优化

所有系统都特征Windows-MASOSPro控制程序多参数扫描优化每个单个质量信道操作参数电脉冲快速计数,连续70年从1cs升至10E+7cs采样率超过每秒500测量值,局部压力检测降至5x10E15mbar

选择离子化源可系统优化各种应用,包括分子波束、激光反射、热解吸和普通中性研究离子源参数均受软件控制并配有离子附加模式、软电离化模式和外观潜在测量模式

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